SAR ADC也經(jīng)常被稱為二進(jìn)制搜索ADC，主要應(yīng)用于中高分辨率和中高轉(zhuǎn)換速率的場(chǎng)合。其工作原理是基于二進(jìn)制算法搜索的方法，通過對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行采樣，將得到采樣值依次與D/A網(wǎng)絡(luò)生成的參考電壓值進(jìn)行比較，最后得到由最高位到最低位的邏輯輸出?；窘Y(jié)構(gòu)如圖1所示：主要包括采樣保持電路(S/H)、比較器、D/A轉(zhuǎn)換網(wǎng)絡(luò)和SAR邏輯控制電路。

圖1 SAR ADC結(jié)構(gòu)示意圖

　　模擬輸入信號(hào)經(jīng)采樣保持之后(VIN)，送到比較器的一個(gè)輸入端;SAR邏輯控制電路將最高位(MSB)D_(N-1)預(yù)置為高電平，經(jīng)過D/A轉(zhuǎn)換網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)生一個(gè)參考電壓值，接到比較器的另一輸入端;這兩個(gè)電壓值進(jìn)行比較得到最高位D_(N-1)的值，同時(shí)比較器的輸出(“0”或“1”)反饋到SAR邏輯控制電路，將次高位D_(N-2)預(yù)置為高電平。按照上述的比較方法，依次類推，直到確定最低位的值為止，這樣就完成了一次數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換。

　　對(duì)N位的SAR ADC，至少需要進(jìn)行N次比較，得到完整的數(shù)據(jù)輸出。圖2給出了3位SAR ADC逐次比較過程。

圖2 3 bit SAR ADC 逐次比較過程示意圖

　　SAR ADC以低功耗、無運(yùn)放、低電壓等優(yōu)點(diǎn)在超深亞微米工藝下有很大的發(fā)展與應(yīng)用前景。

　　芯力特電子科技有限公司(簡(jiǎn)稱芯力特公司)是一家專業(yè)從事混合信號(hào)集成電路設(shè)計(jì)的高科技企業(yè)，有專業(yè)的ADC設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)，全面考慮各種非理想因素對(duì)ADC性能帶來的影響，可以為客戶定制性能優(yōu)異、多種類型的ADC。公司圍繞智慧電網(wǎng)等物聯(lián)網(wǎng)致力于相關(guān)芯片技術(shù)攻關(guān)，采用靈活的商務(wù)模式提供專門的人力、物力進(jìn)行技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品的定制設(shè)計(jì)，以滿足客戶的專用型需求，以一站式的服務(wù)達(dá)到客戶與自身雙贏的目的。

　　一、芯力特公司有非常優(yōu)秀的AD/DA設(shè)計(jì)能力，在硅片上成功研發(fā)過多種AD，DA芯片與IP：

1)高精度高速10bit 100MHz pipeline/12bit 60MHz pipeline的ADC，已經(jīng)在0.18um/0.13um CMOS工藝驗(yàn)證;

2)高精度低速低功耗12bit 4MHz SAR ADC，已經(jīng)在0.18um CMOS工藝驗(yàn)證;

3)高精度低速的sigma-delta ADC，從14-24bit，已經(jīng)在0.5um/0.35um/0.18um CMOS工藝驗(yàn)證;

4)極高速的200MHz 6-8bit flash ADC，已經(jīng)在0.18um/0.13um CMOS工藝驗(yàn)證;

5) 8/10/12bitDAC，已經(jīng)在0.35um/0.25um/0.18um/0.13umCMOS工藝驗(yàn)證。

　　二、芯力特公司擁有高性能RS485接口芯片產(chǎn)品，該產(chǎn)品不僅具有失效安全、熱插拔、過溫保護(hù)、控制與輸入端口遲滯、超低靜態(tài)功耗等特點(diǎn)，而且具有優(yōu)秀的抗雷擊浪涌能力、高壓靜電釋放能力，其接觸放電能力與ESD HBM標(biāo)準(zhǔn)均達(dá)到±15KV水平。

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